浙江杭可仪器取得半导体测试用老化座申请日期为2024年6月
金融界 2024 年 9 月 8 日消息，天眼查知识产权信息显示，浙江杭可仪器有限公司取得一项名为“一种带有保护功能的半导体测试用老化座“，授权公告号 ，申请日期为 2024 年 6 月。
专利摘要显示，本发明公开一种带有保护功能的半导体测试用老化座，包括上盖、扣件和底座，所述的底座一侧通过连接合页与上盖相连，所述的上盖内设有收纳槽，所述的收纳槽内安装有压紧机构，所述的压紧机构内设有压紧芯。本发明能在老化座运输和使用时，提供内部待测件和老化座底部检测座连接部的双重保护，配合按压上盖或扣件自动扣接并锁紧老化座整体，便于在进行检测待测件等半导体电路时，提高半导体芯片等待测件的取拿效率，通过异形 Pin 针组传输老化检测时待测件的运行情况数据信号，具有操作简单的优点，避免现有的芯片半导体老化座由于没有专门的保护设计，导致在检测时待测件容易损坏，且待测件检测装配操作复杂的问题。
本文源自：金融界
