西安立芯光电科技申请半导体激光器测试系统专利，解决复杂技术问题
金融界2024年11月22日消息，国家知识产权局信息显示，西安立芯光电科技有限公司申请一项名为“一种半导体激光器测试系统、测试方法”的专利，公开号CN A，申请日期为2024年8月。
专利摘要显示，本发明涉及一种半导体激光器测试系统、测试方法，属于半导体激光器性能测试技术领域，解决半导体激光器光功率和光谱测试系统结构复杂、实现难度大，测试效率低的技术问题。其测试系统包括功率探测单元、信号采集单元、光纤、光谱仪、多边形柱状体结构。光电探测器、光纤和多边形柱状体组合后形成测试组件，信号采集单元、光谱仪均与测试组件连通。其测试方法包括测试组件插入环形激光器圆心，测试组件中的光电探测器与半导体激光器的发光单元对齐光电探测器接收发光单元出射激光的电压信号，信号采集单元将电压信号换算为功率值输出；光纤接收发光单元出射激光信号，传输至光谱仪，光谱仪显示半导体激光器的光谱的步骤。
