中科瑞测申请高速灵活性测试的 NAND Flash 误码分析系统专利
金融界2024年11月4日消息，国家知识产权局信息显示，中科瑞测（天津）科技有限公司申请一项名为“一种高速灵活性测试的NAND Flash误码分析系统”的专利，公开号CN A，申请日期为2024年10月。
专利摘要显示，本发明提供了一种高速灵活性测试的NAND Flash误码分析系统，首先，先由上位机模块向驱动控制模块发送测试指令，测试指令会令驱动控制模块开启对闪存芯片的测试。驱动控制模块接收到测试指令后，根据测试指令和测试时序，对闪存芯片进行测试，并且驱动控制模块根据测试情况，生成测试数据，驱动控制模块将生成的测试数据发送至上位机模块。在这一基础上，上位机模块接收测试数据并对接收到的测试数据进行解析处理，获取到解析后的结果，即测试结果。上位机模块设有实时记录机制，上位机模块会将测试结果汇总，形成可追踪的测试报告。根据测试报告，能够对闪存芯片的误码情况进行分析。
本文源自：金融界
